REBEKA™ - SEM用リトラクタブルBSE検出器
主な特性
信頼性の高いセンサ | 精密機械 |
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技術パラメータ
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センサ装置
最適な効率性、少ない残光、30光子/keVで減衰時間75 nsのYAG:Ceシンチレータ 外径15 mm 内穴径1 mm、1.5 mm、2 mm、3 mmこの寸法制限により視野を制限 0.2 keVまで検出できる独自の低エネルギーコーティング技術(CRYTUR LOW-ENERGY COATING™) ビーム電流1pAまでの感度 |
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機械装置
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寸法:406 x 100 x 72 mm 真空度を極めたベローズ設計 電動引き込み:150 mm x、y、z軸での微調整:±2 mm 位置決め再現性:0.02 mm 金属保護チューブで覆われた検出器チップの厚さ:3.5 mm / 幅:24 mm 各電子顕微鏡のフランジに対応 白、黒、青の艶消し表面仕上げ |
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電子制御機器
寸法:210 x 180 x 80 mm 電源:230/110 V 各スキャン速度に対応した3つのノイズフィルタ 帯域幅:50 MHz 内蔵電源:光電子倍増管用0-1200 V ビデオ出力信号:±1V(±5V) 完全遠隔ソフトウェア制御 |
サンプル画像
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Evolution of BSE contrast with increasing landing energy Sample: Chondrules and metal flakes in Ghubara Meteorite, provided by Institute of Geology CAS |
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Rebeka can operate in a fast scanning speed down to 20 ns / pxl. Sample: Er / Yb fiber laser - detail, provided by Institute of Photonics and Electronics |
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Sample: Lu3Al5O12 with Lu2O3 crystals |
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Sample: Ir crystals on ceramic surface |
Sample: Sn bond on electronic chip |
Sample: Natural garnet crystal |
Sample: Hg - Pd - Te provided by Czech geological survey |