전자 현미경용 검출 장치

전자 현미경용 검출 장치
단결정 기반의 전자 현미경용 검출 장치에는 단결정 섬광체의 섬광 특성과 도광 기능이 결합되어 있습니다.

주요 성질

당사는 당사의 고유한 섬광 재료를 기반으로 하는 광범위한 검출 및 영상 촬영 장치를 생산하여 제공합니다.

  • 매우 우수한 발광 효율
  • 무한 작동 수명
  • OEM 생산, 시험 및 인증

전자 현미경 검출 장치의 생산 범위에는 주사(SEM) 및 투과(TEM) 전자 현미경용 검출기가 포함됩니다.

SEM 검출기
SE(2차 전자) 검출
  • 평 섬광체(표준)
  • 원뿔형 구조(더 높은 광출력)
  • 광섬유(소형)
BSE(후방 산란 전자) 검출
  • 고리형(표준)
  • 분할
  • 내부 렌즈(0.3mm의 작은 조리개)
CL(음극선 발광)
  • 모든 작동 거리에서 작동하는 범용 석영 광도
  • 포물선
TEM 검출기
STEM 검출기
  • ADF
  • HADF
  • BF
TEM 검출기

 

Crytur는 설계 및 개발 과정에서 고객과 긴밀히 협력하며, 고객 요구에 따라 특별 검출기 디자인도 제공할 수 있습니다.

Crytur는 SEM 업그레이드용 솔루션도 제공합니다. REBEKA™에서 판독 전자장치가 장착된 전동 진공 검출 시스템에 대해 자세히 확인할 수 있습니다.

도광

Crytur는 다양한 검출기와 검출 장치에 사용할 수 있는 다양한 종류의 도광 제품을 생산합니다. 섬광 재료와 용도에 따라 다양한 원료가 사용됩니다.

  • 유기 유리(PMMA)
  • 근자외선용 특수 유기 유리
  • 광학 유리(BK7)
  • 석영 유리
  • 유기 유리 또는 석영 유리 섬유
  • 광섬유 플레이트(FOP) 또는 테이퍼
  • 사파이어
  • YAG(순수한)

요청 시 기타 재료를 사용할 수 있습니다.

 

기능 코팅

 

The detection scintillator surface is coated to prevent charging, to increase the light output and to protect the scintillator surface.

Conductive coating

  • Al (for light-tight coating, detection surface)
  • ITO (detection surface, high chemical and mechanical resistance)
  • CRYTUR low-energy coating (detection starting from 500V)

High reflectivity / Anti-reflection / Protection

  • Al (high reflectivity)
  • ITO (internal total reflection, mechanical resistance)
  • Au (stop layer)
  • MgF2 (anti-reflection)