Unidades de detección para microscopía electrónica
Propiedades principales
Producimos y ofrecemos una serie de unidades de detección y generación de imágenes basadas en nuestros propios materiales de centelleo exclusivos
- Excelente eficacia de luminiscencia
- Vida útil ilimitada
- Producción, pruebas y certificación de OEM
La gama de producción de las unidades de detección microscópica incluye detectores para microscopios electrónicos de barrido (SEM) y de transmisión (TEM).
| Detectores de SEM | ||
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| Detección de SE (electrones secundarios) |
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| Detección de BSE (electrones retrodispersos) |
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| CL (catodoluminiscencia) |
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| Detectores TEM | ||
| Detectores STEM |
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| Detectores TEM |
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Crytur coopera estrechamente con los clientes en el diseño y desarrollo y, además, puede ofrecer diseños de detectores especiales en función de las necesidades de los clientes.
Crytur también ofrece una solución para actualizaciones de SEM. Consulte REBEKA™ para obtener más información acerca del sistema de detección de vacío motorizado con electrónica de lectura.
Guías de luz
Crytur produce muchos tipos de guías de luz para diferentes detectores y unidades de detección. Se usa gran una variedad de materias primas en función del material de centelleo y la aplicación:
- vidrio orgánico (PMMA)
- vidrio orgánico especial para el rango cercano a UV
- vidrio óptico (BK7)
- vidrio de cuarzo
- vidrio orgánico o fibras de vidrio de cuarzo
- cono o placa de fibra óptica (FOP)
- zafiro
- YAG (puro)
Se pueden utilizar otros materiales bajo petición.
Recubrimiento funcional
The detection scintillator surface is coated to prevent charging, to increase the light output and to protect the scintillator surface.
Conductive coating
- Al (for light-tight coating, detection surface)
- ITO (detection surface, high chemical and mechanical resistance)
- CRYTUR low-energy coating (detection starting from 500V)
High reflectivity / Anti-reflection / Protection
- Al (high reflectivity)
- ITO (internal total reflection, mechanical resistance)
- Au (stop layer)
- MgF2 (anti-reflection)
